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Φ3英寸双面超导薄膜Jc均匀性测量
Φ3英寸双面超导薄膜Jc均匀性测量
作者:
华志强
古宏伟
李季
李弢
王小平
王霈文
齐善学
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
摘要:
临界电流密度Jc是评价超导薄膜质量的重要参数之一.采用Jc测量装置可以准确、快速、无损检测Φ2~3英寸双面膜的Jc均匀性.该装置是利用高温超导薄膜的超导转变对线圈内感应电压产生的变化这一原理,测量线圈由初级和次级组成.所用信号频率为20kHz.次级信号在同样频率下由锁相放大器检测.测量过程全部由计算机控制.对于超导微波滤波器应用所要求的高质量Φ2~3英寸双面超导薄膜材料,必须具有高的Jc和低的Rs值.采用该装置测量超导薄膜的Jc均匀性,与Rs对应关系进行分析,将有助于超导薄膜的质量控制.
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文献信息
篇名
Φ3英寸双面超导薄膜Jc均匀性测量
来源期刊
低温物理学报
学科
工学
关键词
年,卷(期)
2003,(z1)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
234-237
页数
4页
分类号
TM26
字数
2227字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1000-3258.2003.z1.051
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
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G指数
1
华志强
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古宏伟
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李弢
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齐善学
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(0)
2003(0)
参考文献(0)
二级参考文献(0)
引证文献(0)
二级引证文献(0)
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
低温物理学报
主办单位:
中国科学技术大学
出版周期:
双月刊
ISSN:
1000-3258
CN:
34-1053/O4
开本:
大16开
出版地:
安徽省合肥市金寨路96号
邮发代号:
26-136
创刊时间:
1979
语种:
chi
出版文献量(篇)
1833
总下载数(次)
3
总被引数(次)
4241
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