系统低剂量率失效和加速模拟试验方法

• 作者: 陈盘训
• 来源期刊: 核技术
• 学科: 物理学
• 关键词: 低剂量率 失效 辐射损伤 模拟试验
• 年，卷（期）: 2003,（2）
• 所属期刊栏目: 低能加速器技术、射线技术及应用
• 页码范围: 132-136
• 页数: 5页
• 分类号: O434.1
• 字数: 0字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-3219.2003.02.010

摘要

综述双极器件和双极线性电路在低剂量率辐射环境下的增强损伤,它可引起系统的早期失效.分析了引起低剂量率失效的物理机制,它与MOS器件电离辐射的损伤机制完全不同.为了缩短模拟试验时间和提高效/费比,研究了几种加速模拟试验方法,并对处于低剂量率下系统的加固保证也提出了一些看法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈盘训	中国工程物理研究院电子工程研究所	5	34	3.0	5.0