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摘要:
评价电子产品的好坏主要从两个方面:一是电路技术指标的先进,二是指产品工作过程中的可靠程度.由此可见可靠性的计算是电子产品设计过程中必不可少的的一个环节.本文从元器件的失效率着手,介绍了电路系统可靠性的计算方法.
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文献信息
篇名 电路系统可靠性的计算
来源期刊 长沙航空职业技术学院学报 学科 工学
关键词 可靠性 失效率 串联系统 并联系统
年,卷(期) 2003,(4) 所属期刊栏目 工程技术研究与应用
研究方向 页码范围 49-51
页数 3页 分类号 TN602
字数 2403字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1671-9654.2003.04.016
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 欧阳斌 4 12 2.0 3.0
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研究主题发展历程
节点文献
可靠性
失效率
串联系统
并联系统
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
长沙航空职业技术学院学报
季刊
1671-9654
43-1396/Z
16开
湖南省长沙市田心桥
2001
chi
出版文献量(篇)
1912
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6
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4248
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