制备条件对Pr123体系氧含量及正电子寿命谱影响

• 作者: 刘永生 张金仓 曹世勋 曹桂新 李平林
• 来源期刊: 低温物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 正电子湮没 氧含量 PrBa缺陷
• 年，卷（期）: 2003,（z2）
• 页码范围: 461-465
• 页数: 5页
• 分类号: O51
• 字数: 2714字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3258.2003.z2.032

摘要

为了澄清Pr抑制超导电性机理及Pr占Ba位问题,本文研究了不同的制备条件下PrBa2Cu3O7-δ(Pr123)样品的物性,分析了电阻率和氧含量随烧结温度不同所表现出的变化.结果表明,烧结温度为880℃时样品的电阻率最低,高于920℃时,电阻率最大,同时也不利于体系吸氧,这可能是由于PrBa缺陷而引起.正电子寿命谱也因此表现出相应的变化规律.短寿命τ1参数和中间寿命τ2参数均在900℃出现最低峰值.由此可知,单从温度条件考虑,制备Pr123的最佳烧结温度应该为900℃左右.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	曹世勋	上海大学物理系	83	211	8.0	12.0
2	张金仓	上海大学物理系	93	237	8.0	11.0
3	曹桂新	上海大学物理系	21	76	5.0	8.0
4	刘永生	上海大学物理系	6	49	3.0	6.0
5	李平林	上海大学物理系	6	14	3.0	3.0