IDS缺陷探讨

• 作者: 匡平 卢延诗 马毅
• 来源期刊: 中国测试技术
• 学科: 工学
• 关键词: IDS 缺陷 自动反应
• 年，卷（期）: 2003,（1）
• 所属期刊栏目: 计算机应用
• 页码范围: 58-60
• 页数: 3页
• 分类号: TP3
• 字数: 4461字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-5124.2003.01.026

摘要

以现有的IDS技术模型和实现技术为切入点,对IDS产品的缺陷进行了深入的讨论,提出了改善现有IDS缺陷的若干策略.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	匡平	电子科技大学机械电子工程学院	9	59	5.0	7.0
2	卢延诗	电子科技大学机械电子工程学院	5	49	2.0	5.0
3	马毅	电子科技大学机械电子工程学院	2	2	1.0	1.0