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摘要:
基于第一原理赝势能带计算,采用电中性能级和平均键能方法计算了7种不同半导体的Schottky接触势垒高度,结果表明2种方法都可用于计算金属-本征半导体的接触势垒高度.文中用于确定接触势垒高度的"本征半导体基态费米能级ESF,i"不同于半导体物理中所指的"本征费米能级Ei ".n型半导体接触势垒、p型半导体接触势垒和本征半导体势垒,三者在接触界面附近的费米能级都是"钉扎"于本征半导体基态费米能级ESF,i,是此三者的接触势垒高度大致相同的原因.
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平均键能方法
费米能级
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表面能级
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内容分析
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文献信息
篇名 Schottky势垒中的电中性能级、平均键能和费米能级
来源期刊 厦门大学学报(自然科学版) 学科 物理学
关键词 Schottky势垒 电中性能级 平均键能 费米能级
年,卷(期) 2003,(5) 所属期刊栏目 研究论文
研究方向 页码范围 586-590
页数 5页 分类号 O471.5
字数 4040字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0438-0479.2003.05.012
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李书平 厦门大学物理学系 23 51 3.0 5.0
2 王仁智 厦门大学物理学系 14 35 3.0 5.0
传播情况
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2011(1)
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研究主题发展历程
节点文献
Schottky势垒
电中性能级
平均键能
费米能级
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
厦门大学学报(自然科学版)
双月刊
0438-0479
35-1070/N
大16开
福建省厦门市厦门大学囊萤楼218-221室
34-8
1931
chi
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4740
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7
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51714
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