银基触头材料电弧作用下的失效及其机理

• 作者: 余海峰 徐炯 朱丽慧
• 来源期刊: 材料科学与工程学报
• 学科: 工学
• 关键词: 触头材料 Ag基 电弧
• 年，卷（期）: 2003,（4）
• 所属期刊栏目: 热点评述
• 页码范围: 612-615
• 页数: 4页
• 分类号: TG13
• 字数: 4656字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-2812.2003.04.037

摘要

电触头是开关电器中的关键器件,它的好坏直接影响到开关电器的寿命问题.本文简要介绍了电弧对触头材料产生的几种可能影响,并以目前应用最广泛的银基触头材料为代表,详细叙述了Ag-Ni,Ag-W或Ag-WC,Ag-MeO以及Ag-C四个体系在电弧作用下产生的失效,并探讨了其机理.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	余海峰	上海大学材料学院	7	136	6.0	7.0
2	朱丽慧	上海大学材料学院	92	879	18.0	25.0
3	徐炯	上海大学材料学院	1	31	1.0	1.0