高速ADC微分相位、微分增益的测试

• 作者: 严顺柄 李迅波 陈光(踽)
• 来源期刊: 电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 微分相位 微分增益 数字处理技术 模数转换
• 年，卷（期）: 2003,（12）
• 所属期刊栏目: 科研通信
• 页码范围: 1897-1899
• 页数: 3页
• 分类号: TP274
• 字数: 2839字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0372-2112.2003.12.034

摘要

本文采用数字处理技术对高速ADC的微分相位、微分增益的测试方法进行研究,给出了方程式,构建了数字测试系统,完成了高速ADC微分相位及微分增益的测试,该方法适用于大批量的ADC动态参数的测试.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李迅波		54	443	12.0	18.0
2	陈光(踽)		6	59	4.0	6.0
3	严顺柄		1	5	1.0	1.0