用探孔场发射显微镜研究单壁碳纳米管的场发射

• 作者: 侯士敏 刘惟敏 张兆祥 张耿民 薛增泉 赵兴钰 金新喜 顾镇南
• 来源期刊: 电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 场发射 场发射显微镜 单壁碳纳米管
• 年，卷（期）: 2003,（11）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 1623-1625
• 页数: 3页
• 分类号: TN304
• 字数: 2423字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0372-2112.2003.11.006

摘要

探孔场发射显微镜可以观测样品的场发射图象,又能测量局域场发射电流和总场发射电流与电压的关系.本文利用具有二维调节探孔位置的场发射显微镜装置测量了单壁碳纳米管场发射图象不同区域、不同吸附状态和经过热处理后的I-V特性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张耿民	北京大学信息科学技术学院电子学系	26	189	8.0	13.0
2	张兆祥	北京大学信息科学技术学院电子学系	26	156	7.0	11.0
3	刘惟敏	北京大学信息科学技术学院电子学系	40	283	8.0	15.0
4	赵兴钰	北京大学信息科学技术学院电子学系	28	187	7.0	13.0
5	侯士敏	北京大学信息科学技术学院电子学系	42	265	8.0	15.0
6	顾镇南	北京大学化学工程与分子学院	47	888	11.0	29.0
7	金新喜	北京大学信息科学技术学院电子学系	3	2	1.0	1.0