平面点匹配的一点校准算法

• 作者: 金升平
• 来源期刊: 计算机工程与应用
• 学科: 工学
• 关键词: 点匹配 带属性点的匹配 校准 指纹识别
• 年，卷（期）: 2003,（2）
• 所属期刊栏目: 博士论坛
• 页码范围: 29-31
• 页数: 3页
• 分类号: TP391.41
• 字数: 2957字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1002-8331.2003.02.011

摘要

点模式匹配是一项重要的视觉课题.对于一个平面点集,由平移和旋转并伴有一定噪声作用产生另一点集,提出一个基于一点校准的点模式快速匹配算法,并推广到带有属性点的匹配问题中.基于一点校准的点模式匹配算法,其计算复杂性为O(mn),其中m,n分别是两个点集所含点的个数,比基于两点距离近似相等的校准匹配算法,其计算复杂性为O(m2nl)(其中l为第二个点集中与第一个点集中任两个点的距离近似相等的平均个数),极大地减少了计算量.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	金升平	武汉理工大学统计学系	29	174	8.0	12.0