通道电子倍增器内壁涂层的X射线光电子能谱分析

• 作者: 刘芬 赵良仲 邱丽美
• 来源期刊: 分析测试技术与仪器
• 学科: 化学
• 关键词: 光电子能谱 倍增器 价态 Pb Bi
• 年，卷（期）: 2004,（3）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 159-161
• 页数: 3页
• 分类号: O657.32
• 字数: 1437字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-3757.2004.03.006

摘要

用氩离子溅射-XPS纵深分析方法对通道电子倍增器内二次电子发射材料的元素组成和原子价态进行了分析,结果表明该材料中的主要元素为Pb, Bi, Ba, Si和O,其中Pb和Bi都以混合价态存在,它们分别是Pb2+和Pb0;Bi3+和Bi0.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵良仲	中国科学院化学研究所分析测试中心	23	210	6.0	14.0
2	刘芬	中国科学院化学研究所分析测试中心	35	278	8.0	15.0
3	邱丽美	中国科学院化学研究所分析测试中心	13	190	6.0	13.0