根据X射线图谱确定硅微粉的析晶度的研究

• 作者: 于岩 阮玉忠
• 来源期刊: 陶瓷学报
• 学科: 工学
• 关键词: X射线 结晶度
• 年，卷（期）: 2004,（1）
• 页码范围: 52-54
• 页数: 3页
• 分类号: TQ174.1+2
• 字数: 2519字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-2278.2004.01.012

摘要

根据硅微粉在不同温度、不同保温时间下的X射线图谱计算其结晶程度,通过测定结晶部分的衍射强度和非晶部分的散射强度就可计算出试样的结晶度;采用日本理学社提供的D/Max系多峰分离软件程序处理试样的X射线衍射图,这种方法计算较为简单方便,所得结果与理论分析结果相符.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	阮玉忠	福州大学材料学院	69	422	10.0	15.0
2	于岩	福州大学材料学院	87	549	11.0	18.0