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摘要:
氮化硅(Si3N4)薄膜具有许多优良特性,在半导体、微电子和MEMS领域应用广泛.简要介绍了Si3N4膜的制备方法及CVD法制备的Si3N4薄膜的特性,详细介绍了低压化学气相淀积(LPCVD)氮化硅的工艺.通过调整炉温使批量生产的淀积膜的均匀性达到技术要求.
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LPCVD氮化硅薄膜的化学组成
氮化硅
薄膜
化学组成
LPCVD
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 LPCVD氮化硅薄膜的制备工艺
来源期刊 厦门大学学报(自然科学版) 学科 工学
关键词 氮化硅薄膜 低压化学气相淀积 温度
年,卷(期) 2004,(z1) 所属期刊栏目 数学与技术
研究方向 页码范围 362-364
页数 3页 分类号 TN304.2
字数 1224字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0438-0479.2004.z1.078
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 冯勇健 厦门大学萨本栋微机电研究中心 1 16 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
氮化硅薄膜
低压化学气相淀积
温度
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期刊影响力
厦门大学学报(自然科学版)
双月刊
0438-0479
35-1070/N
大16开
福建省厦门市厦门大学囊萤楼218-221室
34-8
1931
chi
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