基于区域增长的电路板元件检测算法

• 作者: 王保保 胡水华 赵先军
• 来源期刊: 电子科技
• 学科: 工学
• 关键词: 微电子 表面组装技术 自动光学检测 区域增长法 霍夫变换
• 年，卷（期）: 2004,（4）
• 所属期刊栏目: 技术论文
• 页码范围: 11-14
• 页数: 4页
• 分类号: TN307
• 字数: 2248字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-7820.2004.04.004

摘要

分析了在微电子表面组装技术(SMT)中应用的自动光学检测(AOI)技术与系统的基本原理以及目前存在的问题,提出了一种基于区域增长法求图像边界的检测算法.这种算法首先用区域增长法求出元件的边界矩阵,然后根据此边界矩阵的霍夫变换得出的矢量图与系统内部的标准电路元件模型进行匹配.文章中给出了算法的实现代码以及运行实例.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王保保		69	893	17.0	26.0
2	胡水华		1	8	1.0	1.0
3	赵先军		1	8	1.0	1.0