基于功率谱分析的表面涂层厚度超声无损测量方法

• 作者: 徐志辉 李喜孟 林莉 雷明凯
• 来源期刊: 中国表面工程
• 学科: 其他
• 关键词: 表面涂层 频谱分析 干涉 超声水浸聚焦 超声测厚
• 年，卷（期）: 2004,（6）
• 所属期刊栏目: 试验研究
• 页码范围: 7-9,14
• 页数: 4页
• 分类号: O848.5
• 字数: 1245字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1007-9289.2004.06.002

摘要

针对厚度小于1 mm的薄膜或涂层材料,研究了一种超声测厚信号处理方法.当超声波在两层或多层介质中传播时,不同界面的回波信号会相互叠加并发生干涉.当超声波在厚度L、声速ν、声阻抗Z2的介质(介于声阻抗分别为Z1和Z3的两介质之间)中传播,由于界面回波的叠加与干涉,回波信号的功率谱在频率为f0=ν /4L的奇数或偶数倍处出现周期性极值点.因此,当声速ν已知,待测试样的厚度L可由关系式L=ν /2△f 来求得.其中,△f是相邻两极值的频率间隔.根据该原理,采用水浸聚焦脉冲回波超声检测方法,对镍基高温合金基体上的ZrO2热喷涂涂层(270～400 μm)进行了厚度测试,试验结果与金相法测试结果相符.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李喜孟	大连理工大学无损检测研究所	82	742	14.0	22.0
2	林莉	大连理工大学无损检测研究所	117	1355	20.0	31.0
3	雷明凯	大连理工大学材料工程系	115	712	14.0	19.0
4	徐志辉	大连理工大学无损检测研究所	2	58	2.0	2.0