Dy掺杂Sr2Bi4Ti5O18陶瓷的介电性能

• 作者: 卢网平 徐锐 沈柏清 陈小兵
• 来源期刊: 扬州大学学报(自然科学版)
• 学科: 工学
• 关键词: 铁电 陶瓷 Sr2Bi4Ti5O18 介电损耗 激活能 氧空位
• 年，卷（期）: 2004,（2）
• 页码范围: 27-30
• 页数: 4页
• 分类号: O482.54|TM271+.4
• 字数: 1708字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-824X.2004.02.007

摘要

采用固相烧结工艺制备了Sr2Bi4-xDyxTi5O18 (x=0,0.25)陶瓷样品,用X射线衍射对其微结构进行了分析,并测量了样品的铁电、介电性能. Sr2Bi3.75Dy0.25Ti5O18样品的X射线谱上出现SrTiO3衍射峰,其介电损耗随温度的关系曲线上存在明显的弛豫损耗峰PⅠ, 该损耗峰的激活能为0.4 eV, 可以确定该峰是由氧空位引起的. 结果表明: 离子半径较小的Dy3+很难进入类钙钛矿层,造成样品中大量的A位空位,使得氧空位浓度增加. 氧空位的存在会导致很强的畴钉扎,从而极化降低.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈小兵	扬州大学物理科学与技术学院	56	224	8.0	11.0
2	卢网平	扬州大学物理科学与技术学院	9	67	4.0	8.0
3	徐锐	扬州大学物理科学与技术学院	2	3	1.0	1.0
4	沈柏清	扬州大学物理科学与技术学院	2	5	2.0	2.0