系统芯片IP核间互联总线串扰故障检测模型的BIST实现

• 作者: 张金林 沈绪榜 陈朝阳
• 来源期刊: 计算机工程与应用
• 学科: 工学
• 关键词: 串扰激励模型 IP核间互联总线 BIST实现
• 年，卷（期）: 2004,（33）
• 所属期刊栏目: 博士论坛
• 页码范围: 1-4
• 页数: 4页
• 分类号: TP33
• 字数: 3583字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1002-8331.2004.33.001

摘要

文章针对系统芯片IP核间互联总线串扰故障的激励检测问题,在已经提出一种有效的串扰故障渐进式激励检测模型的基础上,给出了一种该渐进式模型的内建自测试(BIST)实现,对其中的测试矢量产生单元、测试响应分析单元以及测试控制单元进行了详细的分析.同时还给出了该BIST结构实现的参数化HDL描述,文章的最后给出了使用综合工具Synopsys对该BIST结构的综合结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	沈绪榜	华中科技大学图象识别与人工智能研究所教育部重点实验室	152	962	15.0	25.0
5	陈朝阳	华中科技大学图象识别与人工智能研究所教育部重点实验室	43	354	11.0	16.0
6	张金林	华中科技大学图象识别与人工智能研究所教育部重点实验室	6	66	3.0	6.0