数控机床进给伺服系统的检测方案及仿真研究

• 作者: 张立勋 董玉红
• 来源期刊: 自动化技术与应用
• 学科: 工学
• 关键词: 进给伺服系统 检测 仿真 双闭环控制
• 年，卷（期）: 2004,（12）
• 所属期刊栏目: 模式识别与仿真技术
• 页码范围: 32-34,38
• 页数: 4页
• 分类号: TP274.5
• 字数: 1763字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-7241.2004.12.010

摘要

本文对数控机床进给伺服系统采取了三种不同的检测方案,并对三种方案进行了建模仿真和性能分析,在此基础上提出了进给伺服系统的双闭环控制.研究结果表明,双闭环控制策略不仅可以提高伺服系统响应的快速性,而且还能改善系统控制的稳定性,能更好地满足高精度数控机床的性能要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张立勋	哈尔滨工程大学机电学院	185	2115	23.0	32.0
2	董玉红	哈尔滨理工大学机械动力工程学院	27	193	7.0	12.0