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摘要:
报道了X波段0.5 μm GaAs PHEMT 全单片低噪声放大器芯片.该放大器芯片由四级级联放大电路构成.芯片面积为2.43×1.85 mm2.该放大器芯片在通带内测试结果为: 在工作条件VD=5 V(ID≤100 mA)下,增益>26 dB,噪声系数≤2.2 dB,输入、输出电压驻波比<1.6∶1,平坦度≤±1 dB,1 dB压缩功率≥15 dB·m,相位一致性≤±3°,幅度一致性≤±0.5 dB.芯片尺寸为2.43 mm×1.85 mm.
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文献信息
篇名 X波段单片低噪声放大器芯片
来源期刊 稀有金属 学科 工学
关键词 微波单片集成电路 赝配高电子迁移率晶体管 低噪声放大器
年,卷(期) 2004,(3) 所属期刊栏目 研究论文
研究方向 页码范围 484-486
页数 3页 分类号 TN722.3
字数 1244字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.0258-7076.2004.03.009
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 林金庭 30 238 10.0 14.0
2 魏同立 东南大学微电子中心 87 942 17.0 26.0
3 蒋幼泉 34 192 9.0 11.0
4 彭龙新 东南大学微电子中心 21 143 7.0 11.0
8 周正林 1 5 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
微波单片集成电路
赝配高电子迁移率晶体管
低噪声放大器
研究起点
研究来源
研究分支
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
稀有金属
月刊
0258-7076
11-2111/TF
大16开
北京新街口外大街2号
82-167
1977
chi
出版文献量(篇)
4172
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39184
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