论文降重
免费查重
Agilent SOC Test Symposium
基本信息来源于合作网站，原文需代理用户跳转至来源网站获取
摘要：
推荐文章
SOC测试访问机制
SOC
IP核
测试访问机制
复用
利用Agilent86100校准宽带取样示波器
宽带取样示波器
校准
Nose-to-Nose技术
基于Agilent-VEE平台的测试系统设计与应用
Agilent-VEE
GPIB
虚拟仪器
测试系统
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献 (0)
共引文献 (0)
参考文献 (0)
节点文献
引证文献 (0)
同被引文献 (0)
二级引证文献 (0)
2004(0)
- 参考文献(0)
- 二级参考文献(0)
- 引证文献(0)
- 二级引证文献(0)
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体行业
主办单位：
江苏省半导体行业协会
中国半导体行业协会集成电路分会
出版周期：
双月刊
ISSN：
CN：
开本：
出版地：
无锡市梁溪路14号
邮发代号：
创刊时间：
语种：
出版文献量（篇）
1222
总下载数（次）
6
总被引数（次）
0
期刊文献
相关文献
推荐文献
- 期刊分类
- 期刊（年）
- 期刊（期）
- 期刊推荐
