一种基于像素相关性的自适应反走样算法

• 作者: 文建明 李增忠 璩柏青
• 来源期刊: 电子科技
• 学科: 工学
• 关键词: 光线跟踪 反走样 像素相关性
• 年，卷（期）: 2004,（3）
• 所属期刊栏目: 技术论文
• 页码范围: 50-52,55
• 页数: 4页
• 分类号: TN391.41
• 字数: 2728字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-7820.2004.03.013

摘要

文中从采样理论出发,对光线跟踪中走样现象的原因及其反走样原理和方法进行了分析,并根据像素相关性,提出了一种自适应反走样算法.此算法具有简单、快速的优点,能有效地消除图形边缘的走样.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	璩柏青		15	94	6.0	9.0
2	李增忠		2	10	2.0	2.0
3	文建明		1	7	1.0	1.0