面向IP核测试复用的测试环设计

• 作者: 严晓浪 何乐年 李浩亮 沈海斌 陆思安
• 来源期刊: 浙江大学学报(工学版)
• 学科: 工学
• 关键词: 测试复用 测试环 改进测试环单元 三态测试环
• 年，卷（期）: 2004,（1）
• 所属期刊栏目: 电子与自动控制技术
• 页码范围: 93-97
• 页数: 5页
• 分类号: TN402
• 字数: 2930字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3785/j.issn.1008-973X.2004.01.019

摘要

提出了一种改进的测试环单元设计.它在传统的P1500测试环单元基础上添加一个多路器,实现了对测试环单元的功能数据路径测试,并解决了测试环扫描链在扫描移位过程中的安全移位问题,同时还可以降低扫描移位过程中产生的动态测试功耗;在分析了两种典型测试环P1500测试环以及飞利浦TestShell测试环的基础上,提出了一种三态测试环结构.该结构允许共用同一条测试总线的不同IP核直接连接到测试总线上.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	沈海斌	浙江大学超大规模集成电路设计研究所	139	832	13.0	21.0
2	严晓浪	浙江大学超大规模集成电路设计研究所	246	1634	19.0	29.0
3	何乐年	浙江大学超大规模集成电路设计研究所	88	869	16.0	26.0
4	陆思安	浙江大学超大规模集成电路设计研究所	7	92	4.0	7.0
5	李浩亮	浙江大学超大规模集成电路设计研究所	4	46	3.0	4.0