诊断间歇故障降低BIT虚警

• 作者: 刘冠军 柳新民 邱静 钱彦岭
• 来源期刊: 测试技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 机内测试 间歇故障 故障检测率 虚警率
• 年，卷（期）: 2004,（4）
• 所属期刊栏目: 故障诊断
• 页码范围: 369-372
• 页数: 4页
• 分类号: TP277|TN06
• 字数: 2558字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-7449.2004.04.020

摘要

间歇故障的存在及影响是产生BIT(Built-in Test)虚警的一个重要原因.为降低间歇故障引起的虚警,提出一种三状态方法,利用双阈值来区分系统的正常、间歇、永久故障三种状态,并分析得到间歇故障对BIT影响的定量关系.与传统两状态方法相比,基于三状态方法的BIT通过诊断间歇故障,不仅有效地抑制间歇故障引起的虚警,而且还能提高故障检测率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邱静	国防科技大学机电工程与自动化学院	115	1406	22.0	30.0
2	刘冠军	国防科技大学机电工程与自动化学院	88	860	18.0	23.0
3	钱彦岭	国防科技大学机电工程与自动化学院	37	299	10.0	16.0
4	柳新民	国防科技大学机电工程与自动化学院	13	182	8.0	13.0