光学检测系统的优化和评估的新方法

• 来源期刊: 电子工业专用设备
• 学科: 工学
• 关键词: 光学检测 优化与评估 检测设备
• 年，卷（期）: 2004,（1）
• 所属期刊栏目: 表面贴装技术与印制线路板
• 页码范围: 71-77
• 页数: 7页
• 分类号: TN206
• 语种: 中文

摘要

PCB厂商使用自动光学检测仪的目的是为了检测到重要的缺陷,而对于一些特殊设计和装饰性设计则不需要检测.如果要达到这一效果,就必须适当调整系统的检测参数.提供一种衡量AOI侦测性能的新颖方法.此种方法可以尽可能的减少漏测或误报产生的几率.通过考量漏测与误报的各自的成本,客户可据此结果来决定特定的机器的配备.关于自动检测设备选型机制示意图和方法,相关的实用工具及生产领域的简易实施方法也作了说明.