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摘要:
在超大规模集成电路设计过程中,门级故障仿真通常因仿真速度太慢而不能满足市场需求,因此近年来寄存器传输级(RTL)故障仿真成了一个研究热点.已有的RTL的故障模型和故障仿真方法在计算系统的故障覆盖率时,对故障数目或者加权系数的计算需要将RTL设计综合到门级.文中在信号位宽和运算符类型的基础上,提出了一种在RTL预测故障数的手段,并由此得到完全RTL的故障覆盖率计算方法.实验结果证明了该方法的有效性.
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文献信息
篇名 完全RTL的故障数目预测及故障覆盖率计算
来源期刊 计算机辅助设计与图形学学报 学科 工学
关键词 超大规模集成电路 寄存器传输级 故障模型 加权
年,卷(期) 2004,(8) 所属期刊栏目 VLSI设计与测试及电子设计自动化
研究方向 页码范围 1085-1089
页数 5页 分类号 TP302.8
字数 2787字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:1003-9775.2004.08.011
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 倪光南 中国科学院计算技术研究所数字化技术研究室 38 109 5.0 9.0
5 周锦锋 中国科学院计算技术研究所数字化技术研究室 5 21 3.0 4.0
9 陈志冲 中国科学院计算技术研究所数字化技术研究室 4 21 3.0 4.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
超大规模集成电路
寄存器传输级
故障模型
加权
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
计算机辅助设计与图形学学报
月刊
1003-9775
11-2925/TP
大16开
北京2704信箱
82-456
1989
chi
出版文献量(篇)
6095
总下载数(次)
15
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