低成本高故障覆盖率内建自测试方案

• 作者: 李立健 赵瑞莲
• 来源期刊: 同济大学学报(自然科学版)
• 学科: 工学
• 关键词: 线性反馈移位寄存器 种子 随机向量难测故障 随意位
• 年，卷（期）: 2002,（12）
• 所属期刊栏目: 计算机科学与技术
• 页码范围: 1519-1523
• 页数: 5页
• 分类号: TP402
• 字数: 3798字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-374X.2002.12.023

摘要

提出了一个基于重复播种的新颖的BIST(build-in self-test)方案.它使用侦测随机向量难测故障的测试向量作为种子,并利用种子产生过程中剩余的随意位进行存储压缩.通过最小化种子的测试序列以减少测试施加时间.实验表明,本方案需要外加硬件少,测试施加时间较短,而故障覆盖率高,近似等于所依赖的ATPG工具的故障覆盖率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵瑞莲	北京化工大学计算机科学与技术系	49	470	12.0	20.0
2	李立健		2	9	2.0	2.0