PN结二极管计算机数值模拟研究

• 作者: 刘波 李立萍 程煜
• 来源期刊: 实验科学与技术
• 学科: 工学
• 关键词: 高功率微波 PN结二极管 一维瞬态过程模拟 FlexPDE
• 年，卷（期）: 2004,（3）
• 所属期刊栏目: 实验技术
• 页码范围: 10-12
• 页数: 3页
• 分类号: TP391.77
• 字数: 1578字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-4550.2004.03.004

摘要

本文研究PN结半导体器件在高功率微波(HPM)激励下的损伤机理,建立起PN结稳态和瞬态行为的一维模型.利用偏微分方程软件FlexPDE求解PN结所满足的刚性、耦合、非线性偏微分方程组,来分析其非线性响应特性.为今后的半导体器件的破坏阈值分析打下基础.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李立萍		57	562	14.0	21.0
2	刘波		24	593	7.0	24.0
3	程煜		1	1	1.0	1.0