混合信号总线测试方法及应用研究

• 作者: 谢正光 雷加
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: KLIC IEEE1149.4 测试方法 测试实践
• 年，卷（期）: 2004,（9）
• 所属期刊栏目: 自动化测试
• 页码范围: 801-803,812
• 页数: 4页
• 分类号: TP274
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1671-4598.2004.09.001

摘要

简要介绍了混合信号测试总线IEEE1149.4标准和KLIC混合信号总线测试用的实验芯片.使用本研究室开发的混合信号边界扫描测试系统对KLIC实验芯片进行了简单互连、扩展互连测试和CLUSTER测试等.测试结果表明,IEEE1149.4测试总线在这些测试中是非常成功的,并同时指出了其局限性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谢正光	桂林电子工业学院电子工程系	1	2	1.0	1.0
5	雷加	桂林电子工业学院电子工程系	38	197	8.0	11.0