混合信号总线测试

• 作者: 李正光 雷加
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: KLIC IEEE1149.4 测试实践
• 年，卷（期）: 2005,（11）
• 所属期刊栏目: 测试与可靠性
• 页码范围: 26-30
• 页数: 5页
• 分类号: TN407
• 字数: 3418字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1681-1070.2005.11.006

摘要

文中介绍了使用本研究室开发的混合信号边界扫描测试系统对KLIC实验芯片进行简单互连、扩展互连测试和CLUSTER测试.通过对测试结果的分析表明,IEEE1149.4测试总线在这些测试中是非常成功的,并同时指出了其局限性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	雷加		38	197	8.0	11.0
2	李正光		4	15	1.0	3.0