数模混合信号的测试与仿真

• 作者: 何怡刚 厉芸 徐卫林
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 片上系统 混合信号 扫描测试 内置自测试 故障仿真
• 年，卷（期）: 2004,（22）
• 所属期刊栏目: 微电子技术
• 页码范围: 80-82,93
• 页数: 4页
• 分类号: TP352
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2004.22.030

摘要

VLSI的发展特别是SoC的出现,对混合信号测试的研究提出了紧迫的要求.结合系统级芯片的可测试性设计技术所面临的技术难点,本文着重讨论了目前现有的各种测试手段及其各自的特点.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何怡刚	湖南大学电气与信息工程学院	426	5127	34.0	51.0
2	徐卫林	湖南大学电气与信息工程学院	3	32	3.0	3.0
3	厉芸	湖南大学电气与信息工程学院	3	32	3.0	3.0