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摘要:
采用时域有限差分方法(FDTD)进行元件表面微结构电磁场分布的数值模拟;同时实验分析了化学湿法刻蚀对光学元件表面面形及粗糙度、激光损伤阈值等的影响。
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文献信息
篇名 光学材料微缺陷引起的损伤机理及后处理
来源期刊 中国工程物理研究院科技年报 学科 工学
关键词 损伤机理 光学材料 后处理 微缺陷 时域有限差分方法 激光损伤阈值 光学元件 电磁场分布
年,卷(期) zggcwlyjykjnb_2004,(1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 173-174
页数 2页 分类号 TN204
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研究主题发展历程
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损伤机理
光学材料
后处理
微缺陷
时域有限差分方法
激光损伤阈值
光学元件
电磁场分布
研究起点
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中国工程物理研究院科技年报
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四川省绵阳市919信箱805分箱
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