ASIC功能验证方法浅析

• 作者: 杨军 蒋煜婧
• 来源期刊: 集成电路应用
• 学科: 经济
• 关键词: 测试计划 测试组件 随机测试向量 断言 覆盖率统计
• 年，卷（期）: 2004,（11）
• 所属期刊栏目: 市场综述
• 页码范围: 21-24
• 页数: 4页
• 分类号: F4
• 字数: 2226字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-2583.2004.11.005

摘要

随着芯片设计中集成内容的增加和设计规模的扩大,验证复杂性处于飚升状态.验证工程师必须在现有的工具和语言的基础上,找出适合设计的最优的验证方案.验证环境的最基本元素包括测试激励、BFM(Bus Functional Model)、检查机制和覆盖率统计.目前这几方面都提出了新的方法和概念,有利于提高验证的效率、精度和完备性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蒋煜婧		1	4	1.0	1.0
2	杨军		1	4	1.0	1.0