RTD电路的可测试性设计

• 作者: 徐丽燕 林弥 王林 金心宇 陈偕雄 骆健
• 来源期刊: 浙江大学学报（工学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 共振隧穿二极管(RTD) 短路故障 开路故障 可测试性设计
• 年，卷（期）: 2004,（11）
• 所属期刊栏目: 自动化技术、计算机技术
• 页码范围: 1436-1440,1473
• 页数: 6页
• 分类号: TP311|TN431
• 字数: 2501字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3785/j.issn.1008-973X.2004.11.010

摘要

针对共振隧穿二极管(RTD)电路由于具有超高集成度特点所带来的电路测试困难,在故障分析与故障模型的基础上提出了RTD电路的可测试性设计方案.该方案基于RTD电路开关级模型,针对电路基本的开路、短路故障合理增加控制端,利用控制端信号设计测试向量,使电路达到完全可测的目的.本方案可测试性程度较高,硬件花费较小,仅需附加一个金属氧化物半导体管(MOS)与两个控制端便可有效地测试出RTD电路的开路故障与短路故障,提高了电路的可控制性和可观察性,经PSPICE9.0软件验证达到了可测试性设计的目的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈偕雄	浙江大学信息与电子工程学系	139	691	12.0	17.0
2	金心宇	浙江大学信息与电子工程学系	97	992	15.0	28.0
3	林弥	杭州电子科技大学电子信息学院	24	52	4.0	6.0
4	王林	浙江大学信息与电子工程学系	46	424	10.0	19.0
5	徐丽燕	杭州电子科技大学电子信息学院	4	6	1.0	2.0
6	骆健	浙江大学信息与电子工程学系	1	4	1.0	1.0