电路宽度制导的布尔推理

• 作者: 李光辉 李晓维 邵明
• 来源期刊: 计算机辅助设计与图形学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 电路宽度 布尔推理 二叉判决图 布尔可满足性 测试产生
• 年，卷（期）: 2004,（11）
• 所属期刊栏目: VLSI设计与测试及电子设计自动化
• 页码范围: 1568-1574
• 页数: 7页
• 分类号: TP391.76
• 字数: 5338字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1003-9775.2004.11.018

摘要

在基于逻辑电路的布尔推理过程中,经常用到二叉判决图(BDD)与布尔可满足性(SAT)相结合的算法 .由于电路宽度能很好地反映电路的复杂性,提出了一种基于电路宽度的启发式策略,根据电路宽度来实现SAT算法与BDD算法的交替 .充分发挥两者的优势,不仅可以防止因构造BDD可能导致的内存爆炸,而且还能避免SAT算法可能遇到的超时现象 .与以往同类策略相比,该启发式策略更节省计算资源,提高算法性能 .针对组合电路的测试产生实验,证实了其在布尔推理中的效率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李晓维	中国科学院计算技术研究所信息网络研究室	127	1467	20.0	32.0
2	邵明	中国科学院计算技术研究所信息网络研究室	36	161	8.0	11.0
6	李光辉	浙江林学院信息工程学院	17	172	9.0	13.0