可靠性增长分析的整体推断技术

• 作者: 张士峰 杨华波 邓爱民 陈循
• 来源期刊: 系统工程与电子技术
• 学科: 数学
• 关键词: 可靠性增长分析 指数分布 Bayesian方法 Gamma分布
• 年，卷（期）: 2004,（4）
• 所属期刊栏目: 可靠性
• 页码范围: 560-562
• 页数: 3页
• 分类号: O213
• 字数: 2713字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1001-506X.2004.04.039

摘要

Gamma分布函数γ(α,β)常常用作贝叶斯指数可靠性增长模型的先验分布密度函数,参数α、β值的不同,将使增长试验的评估结果有很大的差异.引入服从逆Gamma分布的折合因子,得到一种可靠性增长分析的整体推断技术.该技术是闭合的,具有递推分析形式.通过典型示例与其它确定分布参数的方法进行比较,可知这种方法更加接近工程实际.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈循	国防科技大学机电工程与自动化学院	88	1849	26.0	40.0
2	杨华波	国防科技大学航天与材料工程学院	33	267	9.0	14.0
3	张士峰	国防科技大学航天与材料工程学院	93	1125	18.0	29.0
4	邓爱民	国防科技大学机电工程与自动化学院	9	224	4.0	9.0