构造特定应用领域芯片验证环境的方法讨论

• 作者: 曾泽沧 杜慧敏 沈绪榜 韩俊刚
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 功能验证 BFM模型 同步数字系列断言技术
• 年，卷（期）: 2004,（6）
• 页码范围: 185-189
• 页数: 5页
• 分类号: TP314
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7180.2004.06.050

摘要

由于IC设计复杂度日益增加,用于IC设计功能验证的时间占到整个设计周期的60%～70%.我们认为针对某个领域的产品,开发可配置的验证环境是验证领域的一个方向,本文重点讨论开发特定应用领域芯片的验证环境方法,并介绍了根据该方法,我们开发的一个面向SDH领域系列芯片的验证环境.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	韩俊刚	西安邮电学院计算机系	113	703	14.0	20.0
2	杜慧敏	华中科技大学图像研究所	80	354	10.0	13.0
4	曾泽沧	西安邮电学院计算机系	12	60	5.0	7.0
5	沈绪榜		4	49	3.0	4.0