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摘要:
利用X射线光电子谱(XPS)对HgCdTe表面的硫化特性进行了研究,发现溴腐蚀后的表面硫化处理可以去掉表面的氧化层,Te富集的程度大大减少,硫化处理后再长硫化锌对器件进行钝化,可以大大减少器件的表面漏电,增加器件工作电压和提高器件性能.
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文献信息
篇名 碲镉汞表面硫化的光电子能谱及器件性能研究
来源期刊 激光与红外 学科 工学
关键词 光电子谱 HgCdTe 表面硫化 电学性质
年,卷(期) 2005,(11) 所属期刊栏目 碲镉汞红外器件
研究方向 页码范围 835-836,848
页数 3页 分类号 TN304.2|O472+.1
字数 1905字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-5078.2005.11.011
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李向阳 110 438 10.0 14.0
2 许金通 21 40 4.0 5.0
3 庄春泉 2 9 1.0 2.0
4 汤英文 3 13 2.0 3.0
5 游达 2 5 1.0 2.0
传播情况
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1997(1)
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2009(1)
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2013(1)
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研究主题发展历程
节点文献
光电子谱
HgCdTe
表面硫化
电学性质
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
激光与红外
月刊
1001-5078
11-2436/TN
大16开
北京8511信箱《激光与红外》杂志社
2-312
1971
chi
出版文献量(篇)
5805
总下载数(次)
16
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