电荷耦合器件光度检测-深通道多相层流微流控芯片分析系统

• 作者: 叶美英 方群 殷学锋 沈宏
• 来源期刊: 分析化学
• 学科: 化学
• 关键词: 微流控芯片 多相层流分析 电荷耦合器件光度检测
• 年，卷（期）: 2005,（11）
• 所属期刊栏目: 仪器装置与实验技术
• 页码范围: 1659-1662
• 页数: 4页
• 分类号: O6
• 字数: 3953字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-3820.2005.11.036

摘要

采用精密数控雕刻技术,加工用于微流控多相层流分析的深通道(深度500 μm)聚碳酸酯芯片,以提高芯片进行吸收光度检测的灵敏度.建立了无需辅助光学设备的近距离CCD二维图像光度检测系统,应用于三流路并行的多相层流比色分析.该芯片分析系统的特点是芯片加工快捷,检测灵敏度高,检测光程较常规芯片增加1个数量级;系统结构简单,易于推广.