采用EPR谱和TEM对YSZ单晶辐照损伤的研究

• 作者: 封向东 朱莎 王鲁闵 祖小涛 雷雨
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: YSZ单晶 离子辐照 辐照缺陷 电子顺磁共振谱 透射电子显微镜
• 年，卷（期）: 2005,（12）
• 所属期刊栏目: 粒子束及加速器技术
• 页码范围: 1909-1912
• 页数: 4页
• 分类号: TQ174.4|O433.4
• 字数: 1762字
• 语种: 中文

摘要

利用电子顺磁共振(EPR)谱和透射电子显微镜(TEM)研究了YSZ单晶的辐照效应.200keV的Xe和400keV的Cs离子注入[111]取向的YSZ单晶中,注量均为5×1016cm-2.EPR结果表明辐照产生了共振吸收位置g‖=1.989 和g⊥=1.869、对称轴为[111]的六配位Zr3+顺磁缺陷.Cs辐照产生了比Xe离子辐照多约150倍的六配位Zr3+顺磁缺陷.两种样品的剖面电子显微分析表明没有发现非晶化转变,但是Cs离子辐照的样品在损伤集中区域产生了密度较高的缺陷.因此,EPR谱和电子显微观察均说明在相同离位损伤(约160dpa)的情况下,Cs离子辐照比Xe离子辐照产生了更多的缺陷.造成这一现象的原因是Cs离子是化学活性的而Xe离子却是惰性的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	祖小涛	电子科技大学应用物理系	111	627	12.0	17.0
2	封向东	四川大学物理系	17	74	6.0	8.0
3	雷雨	电子科技大学应用物理系	9	52	3.0	7.0