纳米二氧化硅表面接枝的X射线光电子能谱研究

• 作者: 杨绪杰 汪信 谢毅哲 车剑飞 陆路德
• 来源期刊: 南京理工大学学报（自然科学版）
• 学科: 化学
• 关键词: 纳米粒子 二氧化硅 表面修饰 X射线光电子能谱
• 年，卷（期）: 2005,（3）
• 页码范围: 330-333
• 页数: 4页
• 分类号: O631
• 字数: 2737字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9830.2005.03.022

摘要

在纳米SiO2表面接枝聚缩醛可在粒子表面建立起空间位阻稳定层,提高纳米粒子的分散稳定性,增强纳米粒子与树脂基体的相容性.X射线光电子能谱(XPS)的分析结果表明,经过聚缩醛接枝改性的纳米SiO2的Si2p峰明显降低, 结合能减小0.7eV,对C1s峰精细扫描及分峰拟合表明表面碳元素中有66.34%属于接枝物聚缩醛的有机碳,证明纳米SiO2表面形成了良好的修饰层, 修饰层以化学键结合于纳米SiO2表面,同时根据XPS和热失重(TG)分析的数据结果,可以推测聚缩醛主要分布在纳米SiO2的表面,而在体相中独立存在的几率较小.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陆路德	南京理工大学化工学院	325	4808	33.0	56.0
2	杨绪杰	南京理工大学化工学院	278	3703	28.0	49.0
3	汪信	南京理工大学化工学院	346	5359	35.0	58.0
4	车剑飞	南京理工大学化工学院	30	414	12.0	20.0
5	谢毅哲	南京理工大学化工学院	1	13	1.0	1.0