高性能微处理器的可测性设计

• 作者: 李研 袁春锋
• 来源期刊: 高性能计算技术
• 学科: 工学
• 关键词: 高性能微处理器 可测性设计 扫描 BIST 边界扫描
• 年，卷（期）: 2005,（6）
• 所属期刊栏目: 微处理器技术专辑
• 页码范围: 14-18
• 页数: 5页
• 分类号: TP314
• 语种: 中文

摘要

本文介绍了集成电路可测性设计的一些常用方法,对几个商用高性能微处理器可测性设计的主要特点进行了阐述,并在此基础上总结了高性能微处理器可测性设计的一般方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李研		2	0	0.0	0.0
2	袁春锋		1	0	0.0	0.0