高压直流GIS中绝缘子的表面电荷积聚的研究

• 作者: 方志 汪沨 邱毓昌
• 来源期刊: 中国电机工程学报
• 学科: 工学
• 关键词: 高电压技术 气体绝缘开关装置 绝缘子 电荷积聚
• 年，卷（期）: 2005,（3）
• 所属期刊栏目: 电机电工
• 页码范围: 105-109
• 页数: 5页
• 分类号: TK854
• 字数: 3122字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0258-8013.2005.03.020

摘要

研究绝缘子表面电荷积聚及其抑制措施,是开发用于直流输电的气体绝缘开关装置(GIS)的一项关键技术.文中设计了一种性能优良的新型电容探头,研究了外施直流电压极性、幅值和作用时间对表面电荷积聚的影响.研究表明,当外施电压的幅值和作用时间增加时,绝缘子表面电荷密度的平均值增加,绝缘子表面电荷分布则与外施电压的极性密切相关.文中还对绝缘子表面电荷积聚的抑制措施进行了分析、讨论.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邱毓昌	西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室	228	4719	36.0	54.0
2	方志	西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室	50	983	20.0	30.0
3	汪沨	西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室	20	479	13.0	20.0