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摘要:
通过分析高过载测试中侵彻破坏模式及其缓冲的原理和数学模型,并在此基础上利用马歇特锤对测试装置做破坏性的冲击试验,从而得出关于测试结构微型化设计、电路体的抗高过载设计以及测试系统结构的合理布局的设计原则.
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文献信息
篇名 高过载测试中结构防护模型研究
来源期刊 测试技术学报 学科 工学
关键词 高过载 结构防护 冲击测试
年,卷(期) 2005,(3) 所属期刊栏目 测试技术及理论研究
研究方向 页码范围 249-253
页数 5页 分类号 TM938.7+1
字数 2617字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1671-7449.2005.03.003
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 刘俊 北京大学微电子研究所 181 1162 17.0 24.0
3 石云波 中北大学电子测试技术国防科技重点实验室 108 610 14.0 20.0
4 马游春 中北大学电子测试技术国防科技重点实验室 62 491 12.0 20.0
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研究主题发展历程
节点文献
高过载
结构防护
冲击测试
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
测试技术学报
双月刊
1671-7449
14-1301/TP
大16开
太原13号信箱
22-14
1986
chi
出版文献量(篇)
2837
总下载数(次)
7
总被引数(次)
13975
论文1v1指导