高速接口芯片测试解决方案

• 作者: 李金铁
• 来源期刊: 电子工业专用设备
• 学科: 工学
• 关键词: 高速接口 差分传送 高速测试选件 测试系统
• 年，卷（期）: 2005,（4）
• 所属期刊栏目: 专题报道
• 页码范围: 29-31
• 页数: 3页
• 分类号: TN307
• 字数: 1278字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-4507.2005.04.006

摘要

近年来,伴随着一系列的高速数据传输标准在实际产品中的应用,对于这类芯片的评价测试难度也变得越来越大.爱德万测试根据这类要求,开发了5 Gbps信号的高速测试选件.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李金铁		2	2	1.0	1.0