高真空条件下气压变化对绝缘闪络特性的影响

• 作者: 严萍 孙广生 高巍
• 来源期刊: 高压电器
• 学科: 工学
• 关键词: 高真空 闪络 吸附 解吸附
• 年，卷（期）: 2005,（4）
• 所属期刊栏目: 技术讨论
• 页码范围: 279-281,285
• 页数: 4页
• 分类号: TM85
• 字数: 4565字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-1609.2005.04.013

摘要

对纳秒脉冲(10/30ns)下真空绝缘闪络电压随气压的变化趋势进行了实验研究,探讨的气压范围介于8×10-4Pa至标准大气压之间.研究发现,当气压位于高真空区域(10-4～10-1Pa)时,随着气压的改变,绝缘闪络电压无明显变化,基本保持恒定.深入剖析真空环境下的气体解吸附过程,得出如下结论:当气压进入高真空阶段时,表面放气已成为主要气体负荷,所释放气体均源于绝缘体表面的解吸附气体.真空闪络现象,事实上是一种在绝缘体表面气体解吸附后所形成一高气密环境中发生的放电过程.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	严萍	中国科学院电工研究所	191	2402	27.0	36.0
2	孙广生	中国科学院电工研究所	50	692	16.0	24.0
3	高巍	中国科学院电工研究所	15	111	8.0	10.0