揭示出隐藏各种缺陷的X射线系统

• 作者: 杨建生
• 来源期刊: 集成电路应用
• 学科: 交通运输
• 关键词: X-Rav系统 典型问题 操作方法 小片图像 样品确定
• 年，卷（期）: 2005,（8）
• 所属期刊栏目: 封装技术
• 页码范围: 24-28
• 页数: 5页
• 分类号: U4
• 字数: 5023字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-2583.2005.08.007

摘要

本文主要叙述了X射线系统在微电子封装技术(BGAs)中的应用状况.分别从出现的各种典型问题、满足的多种需要、采用的操作方法、定制各种调整、自动化X射线系统、摄取小片图象到确定样品尺寸等方面进行了概述.从而证明X射线系统在检查隐藏的各种缺陷方面是很有用的,有助于提高产品质量和可靠性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨建生	天水华天科技股份有限公司发展规划部	65	67	4.0	5.0