电子设备测试性设计及系统划分的研究

• 作者: 余晓林 刘于端 李天刚 魏忠林
• 来源期刊: 科学技术与工程
• 学科: 工学
• 关键词: 测试性设计 模糊有向图 系统划分
• 年，卷（期）: 2005,（23）
• 所属期刊栏目: 论文
• 页码范围: 1800-1802
• 页数: 3页
• 分类号: TJ06
• 字数: 3118字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-1815.2005.23.005

摘要

随着科学技术的发展,技术的复杂化和结构的集成化日益增加,检测与隔离故障越来越困难.主要体现在系统测试性差,BIT不能满足使用要求和测试设备的效能差、数量多等.基于此,系统级测试性设计已成为提高产品全寿命周期中最优性价比的重要手段,它既要求满足产品自身设计的兼容性,又要求满足其性能恢复和保障的一致性.简要介绍了系统级测试性设计理论及在该理论中引入的基于模糊有向图理论的系统划分,并加以总结和展望.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	魏忠林	军械工程学院导弹工程系	15	99	5.0	9.0
2	李天刚	军械工程学院导弹工程系	5	29	3.0	5.0