基于集成芯片热模式的PCB电子电路故障诊断方法

• 作者: 于盛林 陈彬
• 来源期刊: 计算机与数字工程
• 学科: 工学
• 关键词: 红外测温 集成芯片温度 模糊方法 故障诊断
• 年，卷（期）: 2005,（1）
• 所属期刊栏目: 研究与方法
• 页码范围: 73-76
• 页数: 4页
• 分类号: TN707
• 字数: 3021字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-9722.2005.01.020

摘要

本文提出了电子电路故障诊断的一种新方法,以集成芯片热模式为出发点,利用红外测温传感器对电子电路中集成芯片温度进行有效的非接触测量,建立集成芯片工作温度标准热模式(WTSTM),并对电路板芯片若干故障现象进行试验.将实验结果与WTSTM进行比较分析,采用模糊推理算法确定传感器测量值对各诊断元件的隶属度函数,并根据隶属度来确定故障元件.论证了该方法的可行性和有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	于盛林	南京航空航天大学自动化学院	151	3177	24.0	51.0
2	陈彬	南京航空航天大学自动化学院	1	1	1.0	1.0