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摘要:
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SVF
测试生成
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扩展互连测试
自动测试矢量
IEEE1149.4
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 用于交流扫描测试中的片上快速信号生成电路
来源期刊 科技开发动态 学科 工学
关键词 扫描测试 信号 交流 大规模集成电路 发明专利 技术领域 结构性
年,卷(期) 2005,(4) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 40
页数 1页 分类号 TN407
字数 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 韩银和 中国科学院计算技术研究所 48 573 12.0 22.0
2 李晓维 中国科学院计算技术研究所 127 1467 20.0 32.0
传播情况
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引文网络
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节点文献
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2005(0)
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研究主题发展历程
节点文献
扫描测试
信号
交流
大规模集成电路
发明专利
技术领域
结构性
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
科技开发动态
双月刊
1003-014X
CN 11-2681/N
北京市中关村北四环西路33号
出版文献量(篇)
5181
总下载数(次)
14
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