基于高阶统计量的红外焦平面非均匀校正算法

• 作者: 徐田华 赵亦工 赵继政
• 来源期刊: 西安电子科技大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 高阶统计量 红外焦平面阵列 非均匀校正 固定图案噪声
• 年，卷（期）: 2006,（2）
• 页码范围: 227-230
• 页数: 4页
• 分类号: TN215
• 字数: 2098字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2400.2006.02.015

摘要

根据高斯噪声高于二阶累积量为零的特性,提出基于高阶统计量的红外焦平面非均匀校正算法,可从图像场景中自适应估计阵列单元的增益和偏置参数.提出的算法包含两个部分,第一部分利用统计矩和累积量周期估计红外焦平面的模型参数,第二部分利用维纳滤波恢复真实图像.仿真图像序列表明这种算法有效降低了固定图案噪声,达到了较高的非均匀校正水平.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵亦工	西安电子科技大学模式识别与智能控制研究所	76	1048	18.0	29.0
2	徐田华	西安电子科技大学模式识别与智能控制研究所	7	83	5.0	7.0
3	赵继政	西安电子科技大学模式识别与智能控制研究所	3	11	2.0	3.0